Testere bıçağı lehim rafının yapısı esas olarak aşağıdaki parçaları içerir:
İndüksiyon bobini: İndüksiyon bobini genellikle içi boş bir bakır tüpten yapılmıştır ve testere dişlerini ve substratı ısıtmak için yüksek frekanslı bir elektromanyetik alan üretmek için kullanılır. İndüksiyon bobini, aşırı ısınmayı önlemek için su ile soğutulur.
Yüksek frekanslı güç kaynağı: Yüksek frekanslı akım sağlayan, indüksiyon bobininin iki ucunu bağlayan, yüksek frekanslı akım yoluyla bir manyetik alan üreten ve testere dişlerini ve substratı ısıtan bir güç kaynağı cihazı.
Soğutma sistemi: Soğutma suyu ve hava tabancaları vb. Soğutma suyu indüksiyon bobininin içinde dolaşır ve hava tabancası, substratın yüzeyindeki tozu havaya uçurmak için kullanılır.
Kelepçe: Kaynak işlemi sırasında testere bıçağının ve testere dişlerinin konumunun stabilitesini sağlamak için testere bıçağını ve testere dişlerini sabitlemek için kullanılır.
Kontrol Sistemi: Kaynak işleminin stabilitesini ve güvenliğini sağlamak için yüksek frekanslı güç kaynağı ve soğutma sisteminin çalışmasını kontrol eder.
Destekleme işlemi genellikle aşağıdaki adımları içerir:
Hazırlık aşaması: Testere bıçağının yüzeyini temizleyin ve toz ve yağı çıkarmak için testere dişleri.
Eşleme aşaması : Testere dişleri ve taban, lehimleme sıcaklığına ulaşmak için yüksek frekanslı bir elektromanyetik alan tarafından ısıtılır.
İnülasyon aşaması: Kaynak malzemelerinin tamamen kaynaşmasını sağlamak için belirli bir sıcaklık ve zaman koruyun.
Ouling aşaması: Kaynak tamamlandıktan sonra, kaynak parçasının sağlam olduğundan emin olmak için soğutma işlemi gerçekleştirilir.
Tempering Tedavisi: İç stresi ortadan kaldırmak ve çatlakları ve diş haşhaşını önlemek için kaynak kısmında temperleme işlemi gerçekleştirilir.